Spridningen av röntgen av materia med tillhörande variationen i intensitet i olika riktningar beror på Interferenseffekter. X-ray diffraktion är en av de viktigaste verktygen i Solid State kemi, eftersom den utgör en kraftfull och lättillgänglig metod för fastställande atomic arrangemang i fråga. X-ray diffraktion metoder beror på det faktum att röntgen våglängder av 1 nanometer är lätt tillgängliga och att detta är av storleksordning av atomic dimensioner. När en röntgenbild beam faller i fråga, spridda röntgenstrålning produceras av alla atomer. Dessa spridda vågor sprida ut sfäriskt från alla atomer i urvalet och Interferenseffekter av spridda strålningen från olika atomer orsaken intensiteten av spridda strålningen till uppvisar maxima och minimivärden i olika riktningar.