Home > Term: בתקן IEEE 754
בתקן IEEE 754
לפי תקן אריתמטיקה של נקודה צפה בינארי שפותחה על-ידי של המכון להנדסת חשמל, מהנדסי אלקטרוניקה, פרסם בשנת 1985.
- Μέρος του λόγου: noun
- Κλάδος/Τομέας: Υπολογιστές
- Category: Workstations
- Company: Sun
0
Δημιουργός
- Balfour01
-
(V.I.P) 32597 points - 100% positive feedback
