Röntgensäteiden sironta mukana vaihtelu eri suuntiin häiriöitä vaikutuksista intensiteetti asian mukaan. Röntgendiffraktio on yksi Puolijohderakenteiset kemia tärkein työkalut, koska se on tehokas ja helposti saatavilla menetelmä asian atomisia järjestelyt määritetään. Röntgendiffraktio menetelmät vaihtelevat x-ray aallonpituuksilla 1 nanometrin ritarikunnan ovat helposti saatavilla ja että tämä on atomic mitat suuruusluokkaa se. Kun x-ray valokeilan kuuluu kysymyksissä hajallaan x-radiation tuottaa kaikki atomeja. Nämä hajallaan aallot jaettuina pallomaisesti alkaen kaikki näytteen ja hajallaan säteilyä eri atomien syy intensiteetti hajallaan säteilyn hapen vaikutus atomien asettaa näytteille maksimit ja vaatimuksiin mukautumisen eri suuntiin.