Разсейване на рентгеновите лъчи по въпроса с придружаващи вариация в интензитет в различни посоки поради на ефекти на интерференция. Рентгенова дифракция е един от най-важните инструменти на полупроводникови химия, тъй като то представлява мощен и лесно достъпна метод за определяне на атомно договорености по въпроса. Методи за рентгенова дифракция зависят от факта, че рентгеново дължини от порядъка на 1 нанометра са лесно достъпни и че това е от порядък на атомно нива на аналитичност. , Когато рентгеново светлина попада по въпрос, разпръснати x-radiation се произвежда от всички атомите. Тези разпръснати вълни, които разстилат сферично от всички атомите в пробата, както и ефекти на интерференция на слаб излъчване от на различните атоми причина интензивността на слаб излъчване на на, да се излага максимални и минимални стойности в различни посоки.